Représentations efficaces pour les réflectances mesurées : modélisation et édititon

Mots clé :

• réflectance
• matériaux
• BRDF

Les matériaux mesurés ont pris de l'importance en informatique graphique. Ils sont efficaces pour la représentation de matériaux homogènes. Cependant, pour les matériaux qui varient en fonction de la position, leur numérisation, utilisation pour le rendu, stockage et édition révèle de nombreuses difficultés. Cette thèse se propose de présenter des méthodes pour le traitement et l'édition de tels matériaux.
Nous présentons trois contributions :
•	Nous proposons une technique pour l'acquisition rapide de matériaux anisotropes avec variation spatiale à partir d'un nombre restreint d'illuminations et avec un point de vue fixe. Cette méthode est adaptée pour des mesures ne requérant pas une fidélité critique. Alors que d'autres techniques nécessitent un système de mesure coûteux et une durée d'acquisition importante, notre technique permet d'obtenir un point de départ pour l'édition à partir de paramètres issus de matériaux réels.
•	Ensuite, nous proposons une procédure pour l'approximation de données mesurées par une fonction analytique. Elle permet de réduire significativement l'emprunte mémoire requise par le stockage des données mesurées tout en proposant l'édition aisée du matériau ainsi représenté. Il est aussi possible de modifier la distribution spatiale des matériaux et ainsi remplacer des matériaux d'une surface par ceux d'une autre.
•	Enfin, nous proposons une méthode permettant d'utiliser une partie des propriétés de réflectances d'un matériau pour les fusionner avec celles d'un second. Cette méthode permet aussi l'édition des deux caractéristiques indépendamment l'une de l'autre de façon intuitive.

Directeurs:

• Mr Nicolas Holzschuch (directeur de recherche - INRIA )

Raporteurs:

• Mr Jean Michel Dischler (Professeur - Université de Strasbourg )
• Mr Reinard Klein (Professeur - Universität Bonn )

Examinateurs:

• Mr Xavier Granier (Professeur - Institut d'Optique Graduate School )
• Mr Alexander Wolkie (Professeur associé - Univerzita Karlova )
• Mme Stefanie Wuhrer (Chargé de recherche - INRIA )